誠心請問線材RUN-IN的原理

[steinway]

小弟認為單體的RUN-IN原理是:
因為單體是被動的機械式元件
RUN-IN可以使橡膠還有鐵心等等機械性的相對運動會更滑順
有誤請諸位大大不吝指教 =)

擴大機的RUN-IN :
小弟認為擴大機會因為RUN-IN而使聲音有所差異的原因主要來自於電容
擴大機中某些大容量的電容需要長時間使用
新電容器的極板之間與介質在靜電力的作用下
長時間使用後會使電容更穩定
類比電路並不如數位電路那樣不黑即白
小改變仍會對聲音產生影響
有誤請諸位大大不吝指教 =)

小弟百思不解的是線材的RUN-IN
有人說一條線一種聲音
愚小弟以為,線材只是導體
線與線之間會有電容的效應存在
絞成絞線也會有電感效應
但是套入公式後都是微乎其微的量
小弟以為這樣的量是不足以產生明顯差異的
還有線材的 RUN-IN 是使甚麼樣的部份產生變化
誠心希望有大大可以位小弟解惑

[chanlin]

金屬與金屬的介面 Aging 後，材料的變化可用 FIB/TEM 觀察，嚴重一點的 aging，用一般 SEM 即可。
導體本身 (線材) 晶格變化，看過有人用質子加速器觀察，可看出通 DC 後晶格的改變，這機器好像台灣沒有。
測阻值變化，一般 4-point probe 精密一點的機器，應該就量的出來。

很多物理機械/化學/電化學現象，用適當儀器可測得出，且可做定量分析，
半導體業界一堆 QA 或 Test 或研發人員靠測量, 觀察, 解釋, 解決這些 aging 效果吃飯賺錢，
但遇到 20 ~ 20KHz +- 3dB 的音響學假設，那就容易落入雞同鴨講。

[eddie0817]

金屬與金屬的介面 Aging 後，材料的變化可用 FIB/TEM 觀察，嚴重一點的 aging，用一般 SEM 即可。
導體本身 (線材) 晶格變化，看過有人用質子加速器觀察，可看出通 DC 後晶格的改變，這機器好像台灣沒有。
測阻值變化，一般 4-point probe 精密一點的機器，應該就量的出來。

很多物理機械/化學/電化學現象，用適當儀器可測得出，且可做定量分析，
半導體業界一堆 QA 或 Test 或研發人員靠測量, 觀察, 解釋, 解決這些 aging 效果吃飯賺錢，
但遇到 20 ~ 20KHz +- 3dB 的音響學假設，那就容易落入雞同鴨講。

Chanlin兄,內行的！
我在做材料檢測跟研究也是大量用到FIB/TEM等分析器材
您的涉獵很廣耶

[eddie0817]

玩電的通常會用電子原理去解釋應有之現象（而電子科系的人很多,但材料相對少）
但其實材料端本身的學問變化,也是蠻大的一塊,常被忽略的

如材料純度如銀或是銅,一般檢測方式還是用GDMS跟ICP-OES
一驗就可以知道其微量元素含量,換算即可知道幾個N
或者使用SEM觀察結構,FIB切/TEM/AFM觀測都可以知道側面晶向

抑或用化學蝕刻方式都可以

[David Lin]

幾位對材料科學的有識之士,可不要掛一漏萬!
1. Chanlin兄講的aging模式是建立在傳送DC電流的導體下,而且能量與時間都相當長!音響訊號是微小的AC訊號,局限條件完全不同.
2. 若是要討論如此細微的參數變化,那線材的機械應力,焊接點處的回火現象,焊材的材料特性與厚度,插頭與插座間的接觸阻抗,不同金屬間的電化學反應(電池效應)與時間長後所引發的冷焊作用等等..以上最少有三個變數對導體的電氣性能影響比aging還要大好幾十倍.該怎樣討論?
3. 我非材料科學出身,但曾與幾位航太界這方面的專家共事兩年,也被公司送去進修了幾節課,對研究工作的理解是: 要慎選局限條件,不然對觀察現象的解釋,只會徒勞無功.
4. 早在50~60年代,幾家NASA的合約商就在埋頭研究,如何延長太空船內類比計算機(當年還沒叫電腦)所用真空管的壽命與增加可靠性,其中有提到用DC點燈絲與AC點燈絲的真空管,在振動條件下破壞模式是有不同的.採用DC者,其燈絲材料在老化後,其表面鍍著物與導體,都有明顯crawling現象,但AC者無!要注意的是,filament所通過的電流頗高,老化的時間很長,材料被加溫到白熱狀態.

幾位若有任何文件或論文可以解釋與證明uA~mA級的AC訊號會對導體直徑在AWG24號以上的訊號線或電線,造成任何材料結構或特性的變化,敬請提出來讓我與其它求知者長長見聞.

20Hz~20KHz的局限存在是必要的!

[syurong1116]

請問寨主可以針對 RUN IN 的部份~做一份簡易的教學~給新手們參考嗎?

[David Lin]

我對線材RUN-IN一無所知!
在下只本於所學,對被錯誤引用的理論提出異議而已.並非否定run-in這個現象,或是有啥了不起的心得.您要另外請教高明了.

[syurong1116]

我對線材RUN-IN一無所知!
在下只本於所學,對被錯誤引用的理論提出異議而已.並非否定run-in這個現象,或是有啥了不起的心得.您要另外請教高明了.

您謙虛了...........

不過還是希望您對於這些東西~可以有個文獻~教一下新人!

[chanlin]

Chanlin兄,內行的！
我在做材料檢測跟研究也是大量用到FIB/TEM等分析器材
您的涉獵很廣耶

我是工作上有接觸 thermal aging 與電子遷移的東西，
所在部門，電子/材料/機械/化學等都有，在下是打雜的。
技術層次應沒 eddie 兄您所在行業高啦！
您那邊的東西整理整理，拿一兩個專利移植到線材的應用，搞不好比李茲線或啥單結晶的還紅。
單(結晶)不夠好，弄差動雙結晶，一個左旋一個右旋....

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個人於工作與生活 (音響) 上是有切割，沒在神經質地 run 線或在乎這超細微的東西，
線材端子氧化的問題倒是煩惱很久，試過K-60，沒啥效的樣子。

寨主一席話反倒是興起拿 DC 電流去處理訊號線的念頭。
好像不難做，用淘汰的充電器變壓器再弄個端子電阻 LED 即可。

[ETK]

好文章 !! 我也覺得 AC 訊號對線材 run-in 應該沒有嚴重的影響才對.

[toscanini]

我向來都只有感覺到新焊好的線材需要幾個小時的時間讓他的聲音從霧霧的變成比較透明

其他的好像都感覺不太出來.....